日立高新掃描探針顯微鏡控制器 返回列表頁

日立高新掃描探針顯微鏡控制器

日立高新掃描探針顯微鏡控制器標(biāo)準(zhǔn)配備改良過的測量參數(shù)自動調(diào)整功能，以及簡單明了的圖形用戶界面。因此，即使是剛剛接觸SPM的人，或者測量某種全新的樣品時，也能取得具有較高再現(xiàn)性的數(shù)據(jù)。

特點：
㈠RealTune®II　測量參數(shù)自動調(diào)整功能
① 提升測量參數(shù)自動調(diào)整功能！此系列開發(fā)出一種全新的處理方法，可預(yù)測并調(diào)整懸臂的振動振幅、動作頻率等主要參數(shù)。其通過對樣品表面的形狀、掃描區(qū)域、使用的懸臂及掃描儀等的綜合評價，高效率、高精度地調(diào)整成合適的測量條件。
②通過新增加了振幅調(diào)整功能的測量參數(shù)自動調(diào)整功能（RealTune®II），可實現(xiàn)一鍵（One Click）測量。原來需要熟練操作的測量，現(xiàn)在沒有經(jīng)驗的操作員也可以簡單地操作。
③也可用于很難調(diào)整參數(shù)的樣品。

【實例1】纖維狀的碳納米管結(jié)構(gòu)體（壁虎膠帶）
【樣品提供：日東電工股份公司】

此前的方法
此種樣品需要對參數(shù)進行精細的調(diào)整，操作困難，并且柔軟的纖維易變形產(chǎn)生皺痕。
新處理方法
自動調(diào)整成合適的參數(shù)，可在復(fù)雜的纖維結(jié)構(gòu)不變形的前提下進行測量。

【實例2】用于有機薄膜晶體管的多結(jié)晶薄膜（并五苯多結(jié)晶薄膜）
【樣品提供：神戶大學(xué)北村研究室】

此前的方法
此款樣品表面容易損壞，易產(chǎn)生皺痕、step的輪廓也不明確。
新處理方法
自動調(diào)整為合適的參數(shù)，穩(wěn)定地測量分子級別上的step結(jié)構(gòu)。

㈡新圖形用戶界面（Graphical Use Interface）
簡單菜單
①簡單明了易懂的圖標(biāo)、嚴(yán)格篩選的顯示信息，無論是無經(jīng)驗者還是熟練操作員，都能夠方便地操作！
②可通過選項卡在測量及分析作業(yè)領(lǐng)域之間切換，畫面簡潔明了?？捎行У貜V泛使用。

㈢3D覆蓋功能
能夠?qū)悠沸螤顖D像及物理性質(zhì)圖像重合起來顯示，并能進一步構(gòu)畫出3D圖像，可以通過視覺形象地感受樣品的物理性質(zhì)的分布。

㈣凹凸分析、剖面輪廓分析功能
具備凹凸分析、剖面輪廓分析等多樣化的分析功能。

㈤小型化設(shè)計
外形更輕便、更小型化，適合各種放置場所。
220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、約15kg