導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率測試儀 返回列表頁

導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率測試儀

原理：導(dǎo)電漿料電極極片中，影響電阻率的主要因素包括基材與涂層的結(jié)合界面情況，導(dǎo)電劑分布狀態(tài)，顆粒之間的接觸狀態(tài)等。通過測定極片電阻率能夠判斷極片中石墨烯在正極主材微觀結(jié)構(gòu)的均勻性和導(dǎo)電漿料的電性能。

導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率測試儀

四探針測試法所示，在半徑無窮大的均勻試樣上有四根間距為S的探針排列成一直線。由恒流源向外面兩根探針4通入小電流I，測量中間兩根探針2、3間的電位差U、I、S的值與樣品的電阻率ρ的關(guān)系如下式所示：

雙電測測試模式，測量精度高、穩(wěn)定性好.

當(dāng)樣品厚度比較小時(shí)，不滿足試樣尺寸半無窮大條件，電阻率公式需要修正因子，此時(shí)薄膜樣品的電阻率為：      

本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測試儀自動(dòng)測量并根據(jù)測試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。

軟件功能（選配）：軟件可記錄、保存、各點(diǎn)的測試數(shù)據(jù)；可供用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分

四位半顯示讀數(shù)；八量程自動(dòng)或手動(dòng)測試；

式中S1、S2、S3、分別為探針1與2、2與3、3與4之間的距離，當(dāng)S1=S2=S3=S時(shí)，C=2πS。

正反向電流源修正測量電阻誤差

自動(dòng)進(jìn)行電流換向,并進(jìn)行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時(shí),可自動(dòng)進(jìn)行厚度修正。

GB/T 14141-2009 硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測定.直排四探針法

測量范圍寬： 電阻：10-4Ω－10-5Ω ；方阻：10-4Ω/□－105Ω/□；

極片電阻率 electrode resistivity 導(dǎo)電漿料與其他材料按配比、規(guī)定步驟制得的膜的單位體積上的電阻大小。

可配合多種探頭進(jìn)行測試；也可配合多種測試臺(tái)進(jìn)行測試。析。

基本設(shè)置操作簡單，方阻、電阻、電阻率、電導(dǎo)率和分選結(jié)果；多種參數(shù)同時(shí)顯示。

厚度可預(yù)設(shè)，自動(dòng)修正樣品的電阻率,無需查表即可計(jì)算出電阻率。

豐富的接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制。U盤可記錄測試數(shù)                    檔分選功能：超上限，合格，超下限，可對被測件進(jìn)行HI/LOW判斷，可直接在LCD使用標(biāo)志顯示；也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細(xì)的分選結(jié)果。

GB/T 1551-1995 硅、鍺單晶電阻率測定 直流兩探針法

恒流源：電流量程分為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔；儀器配有恒流源開關(guān)可有效保護(hù)被測件，即先讓探針頭壓觸在被測材料上，后開恒流源開關(guān)，避免接觸瞬間打火。為了提高工作效率，如探針帶電壓觸單晶對材料及測量并無影響時(shí)，恒流源開關(guān)可一直處于開的狀態(tài)。

儀器：分析天平，感量0.0001g。四探針電阻率測試儀由主機(jī)、四探針頭等組成，整個(gè)儀器系統(tǒng)滿足JJG 508 I級(jí)要求。攪拌機(jī)，濕膜制備器，電熱鼓風(fēng)干燥箱，溫度可控制在150℃±2℃。真空干燥箱，溫度可控制在120℃±2℃。螺旋千分尺，磁力攪拌器。干燥器，裝有適宜的干燥劑，例如變色硅膠。

GB/T 6617-1995 硅片電阻率測定 擴(kuò)展電阻探針法

4. 整機(jī)測量罪大相對誤差：≤±3%；整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度：≤±3%

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半導(dǎo)體材料、金屬材料試驗(yàn)、絕緣流體、獸醫(yī)學(xué)、復(fù)合增強(qiáng)材料、電工器件、無損檢測、集成電路、微電子學(xué)、土質(zhì)、土壤學(xué)、水質(zhì)、電子顯示器件、有色金屬。

四端測試法是目前較*之測試方法，主要針對高精度要求之產(chǎn)品測試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

式中C為探針修正系數(shù)，由探針間距決定。當(dāng)試樣電阻率分布均勻，試樣尺寸滿足半無窮大條件時(shí)，有：

材料：無水乙醇，化學(xué)純。耐高溫PET膜，厚度100µm，寬100mm，耐溫度為200℃。聚偏氟乙烯（PVDF），型號(hào)為HSV900，純度≥99.5%。N-甲基吡咯烷酮（NMP），電子級(jí)。正極材料，磨口具塞錐形瓶，250mL.磁子,4cm~5cm。

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.

GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定 擴(kuò)展電阻探針法

3. 精度高：電阻基本準(zhǔn)確度： 0.05％；方阻基本準(zhǔn)確度：3%；電阻率基本準(zhǔn)確度：3%

16. 測試模式：可連接電腦測試、也可不連接電腦單機(jī)測試。

提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國內(nèi)及國外客戶需求

15. 比較器判斷燈直接顯示，勿需查看屏幕，作業(yè)效率得以提高。

GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法

10. 校正功能：可手動(dòng)或自動(dòng)選擇測試量程 全量程自動(dòng)清零。

標(biāo)配：測試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

便于查看的顯示/直觀的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示；操作易學(xué)，直觀使用；

具備溫度補(bǔ)償功能，修正被測材料溫漂帶來的測試結(jié)果偏差。

DB13/T 5026.1-2019中界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。