-
FFR-uProbe微米級(jí)薄膜表征 詳細(xì)摘要: FFR-uProbe是涂層表征應(yīng)用的解決方案,要求光斑尺寸小*小微米,例如微圖案表面,具有不規(guī)則表面的樣品,其表現(xiàn)出高水平的散射光和許多其它。使用FR-uPro...
產(chǎn)品型號(hào):FFR-uProbe 所在地:北京市 更新時(shí)間:2022-10-21 參考價(jià): 面議 在線留言 -
紫外高分辨率膜厚儀FR-Basic VIS/NIR 詳細(xì)摘要: FR-Basic VIS/NIR基礎(chǔ)型膜厚儀(紫外/近紅外-高分辨率)光譜范圍:350-1000nm :
產(chǎn)品型號(hào):FR-Basic VIS/NIR 所在地:北京市 更新時(shí)間:2022-10-21 參考價(jià): 面議 在線留言 -
掃描型光學(xué)膜厚儀 FR-Scanner 詳細(xì)摘要: 光學(xué)光源裝置小型低功率混合式光源本系統(tǒng)混合了白熾燈和LED燈,終形成光譜范圍360nm- 1100nm;該光源系統(tǒng)通過微處理控制,光源平均壽命逾10000小時(shí);...
產(chǎn)品型號(hào):FR-Scanner 所在地:北京市 更新時(shí)間:2022-10-21 參考價(jià): 面議 在線留言 -
便攜式光學(xué)膜厚儀 詳細(xì)摘要: FR-portable 便攜式膜厚儀主要由以下系統(tǒng)組成:Α白熾-LED混合集成式光源系統(tǒng),通過內(nèi)嵌式微處理器控制,使用壽命超過20000小時(shí)。小型光譜儀,光譜范...
產(chǎn)品型號(hào):FR-portable 所在地:北京市 更新時(shí)間:2022-10-21 參考價(jià): 面議 在線留言 -
薄膜測厚儀FR-Basic UV/NIR-HR 詳細(xì)摘要: 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過的...
產(chǎn)品型號(hào):FR-Basic UV/NIR-HR 所在地:北京市 更新時(shí)間:2022-10-21 參考價(jià): 面議 在線留言 -
ThetaMetrisis薄膜測厚儀 詳細(xì)摘要: 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過的...
產(chǎn)品型號(hào):希臘ThetaMetrisis 所在地:香港特別行政區(qū) 更新時(shí)間:2022-10-21 參考價(jià): 面議 在線留言