1.異頻全自動介質(zhì)損耗測試儀變頻測量時:
干擾十分嚴(yán)重時,變頻測量能得到準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。例如用55Hz測量時,測量系統(tǒng)只允許55Hz信號通過,50Hz干擾信號被有效抑制,原因在于測量系統(tǒng)很容易區(qū)別不同頻率,由下述簡單計(jì)算可以說明選頻測量的效果:
兩個頻率相差1倍的正弦波疊加到一起,高頻的是干擾,幅度為低頻的10倍:
Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)
在x=0/90/180/270°得到4個測量值
Y0=12.4517,Y1= -11.1017,Y2=12.2075,Y3= -13.5576,
計(jì)算A=Y1-Y3=2.4559,B=Y0-Y2=0.2442,則:
φ=tg-1(B/A)=5.678°V= A2+B2/2=1.234
這剛好是低頻部分的相位和幅度,干擾被抑制。實(shí)際波形的測量點(diǎn)多達(dá)數(shù)萬,計(jì)算量很大,結(jié)果反映了波形的整體特征.
2.異頻全自動介質(zhì)損耗測試儀頻率和介損的關(guān)系:
介損有RC串聯(lián)和并聯(lián)兩種理想模型:串聯(lián)模型tgδ=2πfRC,并聯(lián)模型tgδ=1/(2πfRC),tgδ分別隨頻率f成正比和反比。如圖所示,f對*正比和*反比兩種模型影響較大。但實(shí)際電容器是多種模型交織的混合模型,此時f的影響就小。
3.異頻全自動介質(zhì)損耗測試儀自動變頻與50Hz等效
儀器采用自動變頻在干擾頻率50Hz兩側(cè)(45Hz和55Hz)各測一個點(diǎn),然后推算50Hz頻率下數(shù)據(jù)。除多個元件電路的低頻諧振外,單個試品中的介質(zhì)不可能在低頻引起能量吸收峰,工頻附近介損總是隨頻率單調(diào)變化的。因此這種測量方法不會帶來明顯誤差。實(shí)際上,平均前的兩個介損值已十分接近,即使不平均也*有參考價值。目前,變頻介損儀已成為介損測量的常規(guī)儀器,其優(yōu)異的抗力和準(zhǔn)確度已經(jīng)得到認(rèn)可。
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