上海伯東代理美國 KRI 射頻離子源應(yīng)用于多層膜磁控濺鍍設(shè)備 Multilayer sputter, 通過使用 KRI 射頻離子源可實現(xiàn)基板清潔和加速鍍膜材料的濺射速度, 并且離子源在材料沉積過程中可幫助沉積并使沉積后的薄膜更為致密. 膜基附著力更好, 膜層不易脫落.
多層膜的結(jié)構(gòu)廣泛用于各個領(lǐng)域, 而對于精密系統(tǒng)則需要更嚴格的規(guī)格, 包括光, 聲音和電子組件. 在單一材料薄膜無法滿足所需規(guī)格的精密系統(tǒng)中, 高質(zhì)量多層膜的作用變得越來越重要. 因此, 新材料的開發(fā)和薄膜的精確控制制程已成為當前多層薄膜研究的重要方向. 特殊設(shè)計的多層膜磁控濺鍍系統(tǒng)擁有基板公自轉(zhuǎn)機構(gòu), 可實現(xiàn)精準的多層膜結(jié)構(gòu)并可以一次批量生產(chǎn).
多層膜磁控濺鍍設(shè)備 Multilayer sputter 載臺可公自轉(zhuǎn)或定在靶材位置自轉(zhuǎn)
上海伯東 KRI 射頻離子源 RFICP 參數(shù):
型號 | RFICP 40 | RFICP 100 | RFICP 140 | RFICP 220 | RFICP 380 |
Discharge 陽極 | RF 射頻 | RF 射頻 | RF 射頻 | RF 射頻 | RF 射頻 |
離子束流 | >100 mA | >350 mA | >600 mA | >800 mA | >1500 mA |
離子動能 | 100-1200 V | 100-1200 V | 100-1200 V | 100-1200 V | 100-1200 V |
柵極直徑 | 4 cm Φ | 10 cm Φ | 14 cm Φ | 20 cm Φ | 30 cm Φ |
離子束 | 聚焦, 平行, 散射 |
|
流量 | 3-10 sccm | 5-30 sccm | 5-30 sccm | 10-40 sccm | 15-50 sccm |
通氣 | Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他 |
典型壓力 | < 0.5m Torr | < 0.5m Torr | < 0.5m Torr | < 0.5m Torr | < 0.5m Torr |
長度 | 12.7 cm | 23.5 cm | 24.6 cm | 30 cm | 39 cm |
直徑 | 13.5 cm | 19.1 cm | 24.6 cm | 41 cm | 59 cm |
中和器 | LFN 2000 |
上海伯東美國 KRI 提供霍爾離子源, 考夫曼離子源和射頻離子源, 歷經(jīng) 40 年改良及發(fā)展已取得多項專. 廣泛用于離子清洗 PC, 離子蝕刻 IBE, 輔助鍍膜 IBAD, 離子濺射鍍膜 IBSD 領(lǐng)域, 上海伯東是美國考夫曼離子源中國總代理.
若您需要進一步的了解 KRI 離子源, 請參考以下聯(lián)絡(luò)方式
上海伯東: 羅先生
版權(quán)與免責聲明
1、凡本網(wǎng)注明"來源:化工機械設(shè)備網(wǎng)"的所有作品,版權(quán)均屬于化工機械設(shè)備網(wǎng),轉(zhuǎn)載請必須注明化工機械設(shè)備網(wǎng),http://www.91mtp.cn/。違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責任。
2、企業(yè)發(fā)布的公司新聞、技術(shù)文章、資料下載等內(nèi)容,如涉及侵權(quán)、違規(guī)遭投訴的,一律由發(fā)布企業(yè)自行承擔責任,本網(wǎng)有權(quán)刪除內(nèi)容并追溯責任。
3、本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它來源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品來源,并自負版權(quán)等法律責任。
4、如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
手動壓片機價格
型號:JSP-24CEJN高壓軟管批發(fā)
型號:軟管系列激光探傷檢測儀刀痕檢測
型號:ANALYZER3 Φ6轉(zhuǎn)臺廠家
型號:MRNC-255/320/400耐碎石沖擊試驗機廠家
型號:CW-201